产品名称：高度标准块
所属类别：校准用标准块
厂家名称：法国SILION公司
产品简介：
SILIOS公司提供各中采用其专利技术生产的垂直高度标准块，主要用于原子力显微镜（AFMs）及扫描探针显微镜（SPMs）的校准工作。高度从 1nm到 20 nm.
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Code |
Step Height Range(1) |
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SIL020 |
20 nm |
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SIL010 |
10 nm |
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SIL005 |
5 nm |
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SIL001 |
< 3 nm |
Tolerances : Typical : +/- 1 nm
Option 1 : SILIOS certified (optical and mechanical measurements)
Option 2 : Certification from an accredited laboratory (ISO5436 based)